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解決方案 >> 硅料與硅片品質提升解決方案

單晶棒電阻率虛高問題

					單晶棒檢測時，常會碰到電阻率虛高問題，后續出現問題也很難被察覺，這有時候會讓工程師很煩惱，有一種方法可以避免虛高......

硅塊硬質點漏檢解決方案

					切硅塊，大家都知道最怕什么，最怕斷線！加工工藝不合適會引起斷線，操作不當也會引起斷線，最主要的是硅塊內部硬質點。怎么解決這個硬質點才是關鍵，那我們來分析一下吧。

氧碳含量超標解決方案

					氧含量影響電阻率及少子壽命，碳含量影響到硅片的脆性。那標準是什么，如何解決超標問題，讓我們來一起關注......

少子壽命不準解決方案

					Si片少子壽命是關鍵參數，直接決定了電池片的效率。但不同的方法會有不同的結果，如何才能得到想要的真實結果，什么樣的方法是可靠的....

硅片碎片率高解決方案

					碎片原因很多種，除了人為因素，本身平整度，C含量超標等都會引起碎片。降低成本，減少碎片，來看如何解決？

黑心片黑邊片解決方案

					黑心與黑邊是影響電池片發電效率的嚴重問題，關于其生成的機理和檢測手段，業內多有研究，如何能更好的解決客戶問題，也是我們一致努力的方向。

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