1. 解決方案 >> 硅料與硅片品質提升解決方案
          • 單晶棒電阻率虛高問題
          • 單晶棒電阻率虛高問題
            					單晶棒檢測時,常會碰到電阻率虛高問題,后續出現問題也很難被察覺,這有時候會讓工程師很煩惱,有一種方法可以避免虛高......
          • 硅塊硬質點漏檢解決方案
          • 硅塊硬質點漏檢解決方案
            					切硅塊,大家都知道最怕什么,最怕斷線!加工工藝不合適會引起斷線,操作不當也會引起斷線,最主要的是硅塊內部硬質點。怎么解決這個硬質點才是關鍵,那我們來分析一下吧。
          • 氧碳含量超標解決方案
          • 氧碳含量超標解決方案
            					氧含量影響電阻率及少子壽命,碳含量影響到硅片的脆性。那標準是什么,如何解決超標問題,讓我們來一起關注......
          • 少子壽命不準解決方案
          • 少子壽命不準解決方案
            					Si片少子壽命是關鍵參數,直接決定了電池片的效率。但不同的方法會有不同的結果,如何才能得到想要的真實結果,什么樣的方法是可靠的....
          • 硅片碎片率高解決方案
          • 硅片碎片率高解決方案
            					碎片原因很多種,除了人為因素,本身平整度,C含量超標等都會引起碎片。降低成本,減少碎片,來看如何解決?
          • 黑心片黑邊片解決方案
          • 黑心片黑邊片解決方案
            					黑心與黑邊是影響電池片發電效率的嚴重問題,關于其生成的機理和檢測手段,業內多有研究,如何能更好的解決客戶問題,也是我們一致努力的方向。
          • 單晶多晶工藝流程
          • 單晶多晶工藝流程
            					
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